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熒光紫外線老化試驗(yàn)箱在光伏行業(yè)的測(cè)試要求

更新時(shí)間:2019-08-15      點(diǎn)擊次數(shù):817

  紫外線老化試驗(yàn)箱在光伏行業(yè)的測(cè)試要求

  對(duì)于光伏行業(yè)、太陽(yáng)能行業(yè)來(lái)說(shuō),紫外線老化試驗(yàn)箱有什么作用,它的試驗(yàn)有哪些意義呢?要說(shuō)這些,得先從光伏行業(yè)的測(cè)試要求說(shuō)起。以下是艾思荔儀器總結(jié)的十個(gè)紫外線老化試驗(yàn)箱在光伏行業(yè)的測(cè)試要求

  一、IEC61646-10.1目視檢查(Visualinspectionprocedure)

  目的:檢查模塊內(nèi)任何目視缺陷。

  二、IEC61646-10.2標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下之性能(PerformanceatSTC)

  目的:用自然光或是*仿真器,在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下(電池溫度:25±2℃、照射度:1000wm^-2、標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布符合IEC891規(guī)定),測(cè)試模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

  三、紫外線老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.6NOCT下之性能(PerformanceatNOCT)

  目的:當(dāng)標(biāo)稱操作電池溫度與照射度為800Wm^-2時(shí),在標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)光譜照射分布條件下,確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

  四、IEC61646-10.7低照射度下之性能(Performanceatlowirradiance)

  目的:在25℃與照射度為200Wm^-2(用適當(dāng)之基準(zhǔn)電池測(cè)定)之自然光或A類仿真器,確定模塊隨負(fù)荷變化之電性能。

  五、紫外線老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.8戶外曝曬測(cè)試(Outdoorexposure)

  目的:對(duì)于模塊于室外情況下之抵抗力做出不知評(píng)估,并顯示由實(shí)驗(yàn)是測(cè)試所無(wú)法偵測(cè)出之任何劣化之影響。

  六、IEC61646-10.9熱班耐久測(cè)試(Hot-spottest)

  目的:確定模塊承受熱班加熱效應(yīng)之能力,例如封裝材料老化、電池裂紋、內(nèi)部連結(jié)失效,局部被遮光或污邊均會(huì)引起這種缺陷。

  七、紫外線老化試驗(yàn)箱IEC61646-10.10UV測(cè)試(UVtest)

  目的:確認(rèn)模塊承受紫外線(UV)之照射之能力,新紫外線測(cè)試在IEC1345中描述,如有必要在進(jìn)行該測(cè)試前模塊應(yīng)進(jìn)行光。

  八、IEC61646-10.11熱循環(huán)測(cè)試(Thermalcycling)

  目的:確認(rèn)模塊抵抗由于溫度之重復(fù)變化所產(chǎn)生之熱不均勻性,疲勞及其它應(yīng)力之能力。在接收該測(cè)試之前,模塊應(yīng)進(jìn)行退火。[I-V測(cè)試前]是指退火后之測(cè)試,注意在進(jìn)行后I-V測(cè)試前,不要將模塊于光照下。

  試驗(yàn)要求:

  a.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

  b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

  c.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

  d..絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

  九、IEC61646-10.12濕?凍循環(huán)測(cè)試(Humidityfreeze)

  目的:測(cè)試模塊抵抗在高溫和高濕下,隨后之零下溫度之影響力,這并不是熱沖擊測(cè)試,在接收該測(cè)試前,模塊應(yīng)進(jìn)行退火,并經(jīng)受熱循環(huán)試驗(yàn),[[I-V測(cè)試前]指的是熱循環(huán)后測(cè)試,注意在后I-V測(cè)試前,不要將模塊于光兆下。

  試驗(yàn)要求:

  a.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器

  b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性

  c.整個(gè)測(cè)試過(guò)程中紀(jì)錄模塊溫度,并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開(kāi)路或接地失效(測(cè)試過(guò)程中無(wú)間歇開(kāi)路或接地失效)。

  d.絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求

  十、IEC61646-10.20濕漏電流測(cè)試(Wetleakagecurrent)

  目的:評(píng)估模塊在濕操作條件下之絕緣性,并驗(yàn)證由雨、霧、露水或融化之雪水之濕氣不會(huì)進(jìn)入模塊電路之帶電部位,否則這可能會(huì)造成腐蝕、接地故障或安全上之危險(xiǎn)。

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